安卓原生代码中的内存安全漏洞仍是最终用户设备崩溃的主要原因。它不仅会导致系统不稳定及其他质量问题，同时还是造成安全漏洞的主要原因。超过 70% 的高严重性安全漏洞及数百万用户可见的崩溃均由此产生。内存标签扩展 (MTE) 是 Armv9 CPU 核心最激动人心的安全特性之一，该功能可以检测并消除高达 70% 的公共漏洞和暴露 (CVE)，有望在软件质量和安全性方面带来显著变化。

本场演讲将介绍常见的内存安全漏洞，以及 MTE 是如何对此进行检测；并着重说明与现有工具相比，这种新的完全基于硬件方法的优势，以及为何强烈建议在开发过程中使用它来早期检测内存漏洞。此外，演讲还将重点介绍目前 Arm 和合作伙伴在生态系统中使用 MTE 的进展。