存在於 Android 原始碼中的記憶體安全瑕疵（Memory safety bugs）一直是導致終端使用者當機、作業不穩定、與造成安全性漏洞的最大主因。70% 以上的嚴重的安全漏洞問題與數百萬用戶的當機都因此產生。 記憶體標籤擴充（MTE）一直是 Armv9 CPU 核心架構中最令人驚豔的安全性功能之一，不僅可達到革命性的軟體與安全性創新，更可偵測並消弭高達 70% 的 CVE。 此議程將介紹最常見的記憶體安全錯誤，並展示記憶體標籤擴充如何進行偵測。主講者將會針對此款硬體架構的全新特點及優勢，與現有的其他工具進行比較，來說明為何 MTE 在早期開發除錯階段被高度推薦使用的原因。 我們也將將透過 Arm 及合作夥伴在生態系內使用記憶體標籤擴充的案例與狀態進行重點說明。